抗辐射双极器件加固导论
图书信息
书名：抗辐射双极器件加固导论作者：李兴冀,杨剑群
包装：平装
开本：16
出版社：哈尔滨工业大学出版社
出版时间：2019-01-01
图书简介
本书主要介绍了宇航用电子元器件的辐射损伤效应及双极工艺器件的抗辐射加固原理、技术研究等内容。全书共7章，涵盖了半导体物理与器件基础、空间带电粒子辐射环境、双极器件电离/位移效应、抗辐射加固相关问题、辐射损伤效应评价方法等方面。书中详细介绍了双极技术器件辐射损伤效应的基本特征和微观机制，提出了双极工艺器件抗辐射加固原理与技术研究的基本思路，针对双极器件辐射损伤所面临的各种问题，讨论了相应的解决方法。本书对从事宇航用电子元器件科研和生产的人员，以及高等院校相关专业师生具有很高的参考价值。
推荐理由
该书全面介绍了宇航用电子元器件的辐射损伤效应及双极工艺器件的抗辐射加固原理、技术研究等内容。作为一本实用性较强的专业书籍，该书针对双极器件辐射损伤所面临的各种问题，详细讨论了相应的解决方法，为相关专业人员提供了很好的指导和参考。此外，本书广泛涵盖了多个方面，且条理清晰，阅读过程中能够逐步理解双极器件的相关知识。因此，推荐该书给相关领域的专业人员阅读学习，提高其研究水平。