半导体材料测试与分析
图书信息
书名：半导体材料测试与分析作者：杨德仁
包装：精装
开本：16
页数：381页
全文字数：481000
出版社：科学出版社有限责任公司
出版时间：2010-4
图书简介
《半导体材料测试与分析》主要包括四探针电阻率、无接触电阻率、扩展电阻、微波光电导衰减、霍尔效应、红外光谱、深能级瞬态谱、正电子湮没、荧光光谱、紫外-可见吸收光谱、电子束诱生电流、I-V和C-V等测试分析技术。本书涉及测试技术的基本原理、仪器结构、样品制备和应用实例。适合大专院校的物理、材料、器件、科学和工程专业的高年级学生、研究生和教师作为参考或教学用书，也适合从事相关研究和开发的科技工作者和企业工程师参考。
推荐理由
这本《半导体材料测试与分析》详细介绍了各种测试分析技术及其基本原理，对从事半导体材料研发和工程的科技工作者和企业工程师都是一本实用参考书。对于大专院校的物理、材料、器件、科学和工程专业的学生和教师来说，也是一本宝贵的教材和教学参考书。此书内容丰富、详实，是一本不可多得的科技参考书。