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硅加工中的表征

更新时间: 2024年10月11日 访问量: 885次
图书分类 : 半导体技术
硅加工中的表征

图书信息

书名:硅加工中的表征
作者:布伦德尔,埃文斯,斯特劳瑟
包装:平装
开本:16
出版社:哈尔滨工业大学出版社
出版时间:2014-01-01

图书简介

本书旨在介绍硅加工过程中,相关技术的表征方法及其应用,着重介绍了硅外延生长和Si1_xGex外延生长技术,硅多晶导电膜,硅化物和铜/铝基导体材料,以及阻挡膜的表征技术。该书详细介绍了材料特性表征等方面的内容,以及相关的技术方法,还提供了技术总结的附录。

推荐理由

本书介绍了硅加工过程中相关技术的表征方法及其应用,包括硅外延生长、多晶硅导电膜、硅化物和铜/铝基导体材料、阻挡膜等方面的表征技术。本书详细介绍了材料特性表征等方面的内容,以及相关的技术方法,适合从事半导体制造和应用的工程师、科学家和研究人员阅读。