半导体测试技术原理与应用
图书信息
书名：半导体测试技术原理与应用作者：刘新福,杜占平,李为民
包装：平装
开本：32
页数：304页
全文字数：267000
出版社：冶金工业出版社
出版时间：2006-11
图书简介
《半导体测试技术原理与应用》详细介绍了微区电学参数测试的重要性，综述了当前已研究出来的各种半导体测试方法的特点。书中主要分为11章，前6章分析了常见的四探针测量技术的基本原理，其中重点讨论了常规直线四探针法、改进范德堡法和改进Rymasze-wski四探针测试方法等。同时，本书也探讨了四探针测试技术中的共性问题，介绍了以较高的定位精度进行大型硅片的无图形等间距测量的原理。后5章重点讨论了测试技术在材料科学等领域的分析与应用及无接触测量技术。总的来说，该书内容丰富，系统地介绍了微区电学参数测试的理论和实际应用，适合电子专业人士和对半导体测试技术感兴趣的读者。
推荐理由
本书是一本对半导体测试技术进行全面介绍的著作。书中以微区电学参数测试为核心，系统地介绍了半导体测试技术的相关原理和应用。本书不仅包括常见的四探针测量技术，还讨论了四探针测试技术中的共性问题及无接触测量技术等。本书内容丰富，结合了实际应用案例，是电子专业人士和对半导体测试技术感兴趣的读者不可错过的参考书。
