半导体制造中的质量可靠性与创新
图书信息
书名：半导体制造中的质量可靠性与创新作者：简维廷,郭位,张启华
包装：平装
开本：16
全文字数：448000
出版社：电子工业出版社
出版时间：2016-03-01
图书简介
本书是由集成电路行业质量与可靠性管理领域的国际知名学者简维廷等专家共同编写的。书中对集成电路制造全过程中的质量与可靠性管理展开阐述，对中国集成电路产业的发展趋势进行了介绍。在13个具体的项目范畴之内，本书对每一个质量项目进行细致的分析，并且详细介绍了在各个环节中应该采取的具体措施。针对质量、可靠性和失效分析（Failure Analysis，FA）三大课题，书中系统、深入地介绍了实用案例中的创新经验和创新理念，并将这些理论知识通过实际的生产线和产品进行质量与可靠性管理。本书适用于电子制造业中质量与可靠性管理人员及失效分析人员参考和使用，对质量、可靠性和失效分析相关行业的科研、生产管理工作人员，以及高等院校相关专业的师生也具有一定的参考价值。
推荐理由
《半导体制造中的质量可靠性与创新》这本书是由多位行业权威专家合作编写而成的，几乎涵盖了集成电路制造中所有的关键质量问题，并且为各种环节中的问题提供了有效整合的解决方案。书中各个章节均以实际案例为依据，反映了作者们在电子制造业中长期从事质量管理和失效分析的实践经验。这些实用案例不仅使读者更深入地了解了实际应用中存在的难点问题，还展示了作者在质量与可靠性问题解决方面的独特见解和思考。推荐给有志于电子制造行业的品质管理工程师及失效分析工程师。