现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应
图书信息
书名：现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应作者：Eishi,H.,Ibe,伊部英治,毕津顺
包装：平装
开本：16
全文字数：358000
出版社：电子工业出版社
出版时间：2019-01-01
图书简介
本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响，从物理角度建模，以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。全书分为9章，内容涵盖了电子器件和系统基础、辐射效应基础、集成器件级仿真技术、故障、错误和失效的预测、检测与分类技术、电子元件和系统的故障减缓技术等方面。作者对多种降低软错误影响的预测、检测、表征和缓解技术进行了分析和讨论，帮助读者更好地理解电子系统失效的原因和方法。适合航天电子、核与空间辐射、半导体物理和电子设备等领域的科研人员和研究生阅读。
推荐理由
本书深入剖析辐射效应在电子设备中的影响，全面介绍多种降低软错误的预测、检测、表征和缓解技术。适合航天电子、核与空间辐射、半导体物理和电子设备等领域的科研人员和研究生，对各种物理现象进行建模和数值计算感兴趣的研究人员或学生也可参考本书。