SoC设计和测试技术：理论与实践

《SoC设计和测试技术：理论与实践》是一本对于SoC设计和测试技术进行全面深入阐述的专业书籍。本书共分7章，第1章主要介绍了VLSI设计技术的发展现状和重点问题，通过对VLSI设计技术的整体介绍，引入了SoC的设计流程与技术。第2章重点讲述了硬件描述语言Verilog，包括Verilog语言的一般结构、Verilog语言要素、表达式与操作符、结构描述方式、数据流描述方式、行为描述方式等内容。第3章介绍了可编程逻辑器件，包括GA、PLD、FPGA等，还给出了FPGA的开发实例，介绍了QuartusⅡ的启动、数据准备、建立新设计项目、建立新的VerilogHDL文件、建立新的原理图文件、设置时间约束条件、引脚绑定、编译、仿真等过程。第4章重点阐述了逻辑综合，包括组合逻辑综合介绍、二元决定图、VerilogHDL与逻辑综合、逻辑综合的流程、门级网表的验证、逻辑综合对电路设计的影响、时序电路综合举例、Synopsys逻辑综合工具简介等内容。第5章介绍了自动布局布线技术，包括自动布局布线的一般方法和流程、自动布局布线软件介绍、自动布局布线的处理实例等。第6章介绍了SoC的基本概念，介绍了SoC的特征和条件，以及基于平台的SoC设计方法。最后，第7章涉及SoC测试方法，包括测试步骤、可测试性设计方法、缺陷和故障、测试向量生成、SoC测试面临的挑战等。本书既有理论知识，又融于工程实践，涉及面广，内容深入，无论是从事电子、通信、计算机等领域的技术人员及专业学者，仍是硬件工程师，都将受益良多。