纳米级系统芯片单粒子效应研究
图书信息
书名：纳米级系统芯片单粒子效应研究作者：贺朝会
包装：平装
开本：16
页数：191页
全文字数：250000
出版社：科学出版社
出版时间：2021-05-01
图书简介
《纳米级系统芯片单粒子效应研究》介绍了28nm系统芯片单粒子效应的研究现状和测试系统的研制，包括SoC的α粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究，以及单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SoC抗单粒子效应软件加固方法研究。本书还提出了Xilinx Zynq-7000 SoC单粒子效应规律和错误类型，计算了不同模块的单粒子效应截面和软错误率，并揭示了SoC的单粒子效应敏感模块和区域分布特征。为提高SoC的可靠性，本书还针对SoC单粒子效应提出了几种加固方法，并进行了实验验证。
推荐理由
该书介绍了28nm系统芯片单粒子效应的研究现状和测试系统的研制，对SoC的单粒子效应软/硬件故障注入、分析、诊断和加固方法进行了理论分析和实验验证。本书是一本系统全面、实验和理论相结合的精品技术著作。对从事芯片设计、集成电路可靠性、电子设备无故障设计等方面的工程技术人员、高级学者、研究生等感兴趣的人读者具有很高的参考和借鉴的价值，也是相关领域科研人员的科技交流和技术研究的重要参考资料。