现代电子系统软错误
图书信息
书名：现代电子系统软错误作者：韩郑生
包装：平装
开本：16
全文字数：410000
出版社：电子工业出版社
出版时间：2016-06-01
图书简介
本书共分为10章，系统介绍了软错误的物理机制、建模和仿真、降低软错误的各种技术方法，以及可靠性威胁的解决方法。书中详细讨论了单粒子效应发生机制与分类、JEDEC标准、电路级和系统级单粒子效应建模与仿真、硬件故障注入、采用加速测试与错误率预估技术，评估验证面向空间或地面环境的集成电路等内容。相比其他类似书籍，本书更注重于介绍降低软错误的技术方法，并介绍了软件级的降错方法。
推荐理由
《现代电子系统软错误》是一本权威、全面深入的电子系统软错误领域的参考书。本书介绍了软错误的物理机制、建模和仿真、降低软错误的各种技术方法，是电子工程领域的一本必备教材。该书适用于微电子与固体电子学专业的教师、研究生和本科生，也可供高可靠抗辐射集成电路领域的研究人员和工程技术人员使用。