数字集成电路功耗与测试综合优化
图书信息
书名：数字集成电路功耗与测试综合优化作者：孙强
包装：平装
开本：16
全文字数：222000
出版社：清华大学出版社
出版时间：2016-12-01
图书简介
数字集成电路领域中，随着VLSI集成度和时钟频率的提高，低层次综合效率降低，测试困难，电路功耗问题突出。本书深入研究数字集成电路的功耗和测试综合优化，介绍了高层次综合技术、可测性设计、低功耗设计、加权相容图等相关知识；并提出基于多项式符号代数的高层次综合方法。此外，本书还介绍了应用多目标遗传算法和峰值功耗优化改进的力引导调度方法，旨在解决数字集成电路中存在的难题。
推荐理由
本书让读者深入了解数字集成电路的优化方法，提供了新的设计思路和算法，对于工程师和研究生都很有帮助。读者将通过本书了解数字集成电路中的关键问题，并掌握解决这些问题的方法和技术，这将对提高数字集成电路的可靠性和可测性，优化其功耗和测试，具有重要的现实意义。
