化学键的弛豫
图书信息
书名：化学键的弛豫作者：孙长庆,黄勇力,王艳
包装：平装
开本：16
出版社：高等教育出版社
出版时间：2017-8-1
图书简介
化学键的形成、断裂、弛豫及其动力学，以及对固体表面吸附、异质界面、拓扑缺陷、低维结构等非常规配位体系的影响进行系统研究。详细介绍包括键弛豫理论、局域键平均近似原理和数值算法、计量谱学实验等方法及其应用。本书第二篇探讨低维配位体系的力学强度、热稳定性、声子激发、光发射吸收、电子极化、磁性等物性；第三篇阐述原子尺度具有多场效应的固体力学行为，包括纳米器件力学特性等。全书力求表述简单，原创性强，风格独特，贯穿系统性、深度性、关联性于始终。
推荐理由
推荐理由：《化学键的弛豫》是一本涉及化学、材料科学、物理等多个领域的专业学术著作，对于想要了解物理化学领域的专家和学生而言是非常有价值的参考书籍。作为一本系统性和原创性强的书籍，本书从原理和概念角度入手，涵盖了众多的内容，其中的键弛豫理论、局域键平均近似原理和数值算法、计量谱学实验等方法及其应用更是对学科的深入理解和研究提供了很大帮助。同时，本书还非常注重阐述物理化学领域的基础知识，力求表述简单易懂，可以帮助读者深入理解相关知识点。总之，如果你是物理化学领域的学生或专家，或对材料科学感兴趣，那么这本书将是你不可或缺的参考书籍。