抗辐射设计与辐射效应
图书信息
书名：抗辐射设计与辐射效应作者：沈自才,丁义刚
包装：平装
开本：16
出版社：中国科学技术出版社
出版时间：2015-05-01
图书简介
《抗辐射设计与辐射效应》这本书从多个方面对抗辐射设计所涉及的内容进行了详细的介绍。从辐射环境、辐射效应、辐射损伤机制、辐照试验、辐射屏蔽等方面入手，以阐述和梳理抗辐射设计所需要的知识点，为读者提供了一份权威而全面的参考资料。此外，作者对于漆类材料、聚合物材料、光学材料、MOS工艺器件、二极管、双极晶体管、FPGA、CCD等典型材料与器件的辐射损伤机理和辐射效应数据进行了总结，对读者有很大的帮助。本书不仅适合从事抗辐射设计和辐射防护工作的科研人员、工程师等专业人士参考使用，也适合对辐射防护感兴趣的读者阅读。
推荐理由
本书由权威作者编写，内容丰富全面，针对各类材料和器件的辐射损伤机理和辐射效应数据，让读者可以全方位了解抗辐射设计和辐射防护工作所需要的知识点。对于从事相关行业的专业人士来说，这本书是一份必备的参考资料。同时，对那些对辐射防护感兴趣和想要进一步了解抗辐射设计和辐射防护的读者，本书也是一本值得推荐的书籍。
