半导体物理与测试分析 谭昌龙

《半导体物理与测试分析》是一本介绍半导体物理与测试分析方面的教材，主要分为以下几个章节： 1. 半导体的基本性质 2. 半导体中杂质和缺陷能级 3. 平衡态半导体中载流子的统计分布 4. 载流子在外电场作用下的运动规律 5. 霍尔系数和电导率的测量方法 6. 非平衡载流子的运动规律及产生和复合机制 7. 少数载流子寿命的测量 8. pn结形成的工艺过程及其电学特性 9. pn结势垒电容的测量 本教材详细介绍了以上各个章节的相关知识，语言简洁明了，层次清晰，配有大量的图表和实验数据，便于读者理解。同时，本教材还包含了一些高级内容，适合更深入地了解半导体物理和测试分析的读者参考。 推荐理由：本教材是一本权威的科技类教材，涵盖了半导体物理与测试分析方面的基础知识和一些高级内容。适合高等学校微电子学、电子科学与技术、应用物理等专业本科生参考教材，也可供理工类相关专业的本科生、研究生及科技人员参考。对于想要深入了解半导体物理与测试分析的人员来说，它不仅是一份必备的参考资料，更是一本通俗易懂、严谨准确的教材。