短波红外InGaAs探测器辐照特性研究
图书信息
书名：短波红外InGaAs探测器辐照特性研究作者：黄星
包装：平装
开本：16
页数：106页
全文字数：100000
出版社：安徽师范大学出版社
出版时间：2020-12-01
图书简介
本书主要研究了短波红外InGaAs探测器在太空辐照环境下的特性，主要包括对InGaAs吸收层的少子寿命提取、不同钝化方法的探测器低频噪声等方面的研究。首先，作者利用微波反射法提取了短波红外InGaAs探测器中吸收层的少子寿命，为探测器的性能提升提供了理论基础。其次，作者通过对不同钝化方法的探测器低频噪声的研究，发现PECVD钝化器件的缺陷能级可以通过g-r噪声的温度特性得到提取。最后，针对太空辐照环境下的探测器工作问题，作者对短波红外InGaAs探测器在γ射线和质子辐照下的性能进行了研究，为探测器在航天遥感应用中的正常工作提供了科学依据。
推荐理由
本书针对短波红外InGaAs探测器在航天遥感应用中的特殊使用环境，通过提取吸收层的少子寿命和钝化器件的缺陷能级，研究了不同钝化方法的探测器低频噪声等性能，对探测器在太空质子、电子和γ射线等辐照下的工作进行了详细分析。本书可为相关领域的学者和工程师提供重要的科学理论和实用经验，是目前国内较为权威的短波红外InGaAs探测器辐照特性研究的一部重要著作。
