Springer手册精选系列·晶体生长手册（第5册）：晶体生长模型及缺陷表征（影印版）
图书信息
书名：Springer手册精选系列·晶体生长手册（第5册）：晶体生长模型及缺陷表征（影印版）作者：德哈纳拉,Govindhan Dhanaraj
包装：平装
开本：16
页数：367页
出版社：哈尔滨工业大学出版社
出版时间：2013-1
图书简介
《Springer手册精选系列·晶体生长手册（第5册）：晶体生长模型及缺陷表征（影印版）》介绍了晶体生长模型及缺陷表征，验证了工艺参数和晶体质量问题的相互作用关系。其中，PartF详细讨论了晶体生长及缺陷模型、熔体生长晶体体材料的传导和控制、Ⅲ族氮化物的气相生长、生长直拉硅晶体中连续尺寸量子缺陷动力学、熔体基底化合物晶体生长中应力和位错产生的模型等方面的内容。PartG则关注缺陷表征技术，阐述了晶体层结构的X射线衍射表征、晶体缺陷表征的X射线形貌技术、半导体的缺陷选择性刻蚀、晶体的透射电子显微镜表征、点缺陷的电子自旋共振表征以及半导体缺陷特性的正电子湮没光谱表征等方面的知识。该书还分享了预测工具和分析技术在大尺寸晶体生长工艺设计和控制方面的应用，具有很高的实用性和参考价值。
推荐理由
该书内容广泛，详细讲解了晶体生长模型及缺陷表征、结晶材料特性和分析的发展，以及预测工具和分析技术在大尺寸晶体生长工艺设计和控制方面的应用，涵盖了晶体生长学和材料学等多个领域。本书以清晰的语言和详细的图表为读者解析了复杂的理论知识，可以帮助初学者快速掌握晶体生长的核心概念，也能帮助相关领域专家深入理解晶体生长过程中的关键问题。推荐给物理、化学、材料及相关专业的科研工作者、研究生和本科生等阅读。
