晶体生长中输运现象及晶体缺陷
图书信息
书名：晶体生长中输运现象及晶体缺陷作者：方海生,刘胜
包装：精装
开本：16
全文字数：443000
出版社：科学出版社
出版时间：2019-06-01
图书简介
本书不仅是晶体科学领域的重要参考书，也是深度了解晶体生长和热物理交叉领域的必读之作。近年来，随着晶体应用领域的拓展和晶体生长技术的不断发展，作为从事相关学科研究或工作的专业人员，对于晶体生长的基本原理、晶体缺陷及其形成机理的深入理解迫在眉睫。本书全篇条理清晰，内容详尽，具有极高的学术价值，可为相关行业的研究人员提供重要参考资料。
推荐理由
本书详细介绍了晶体生长的基本原理和输运现象，薄膜制备中的传热和传质现象，以及晶体缺陷的形成机理。作为一本深刻解析晶体生长实践中理论问题的科学技术类图书，它不仅展示了晶体制备过程的研究方法和优化策略，更进一步深入了解了从分子动力学角度理解晶体缺陷形成的机理。这本书全面系统地总结了晶体生长技术领域的研究与应用，适合从事相关行业的科研人员、工程师及学生阅读和参考。