表面分析技术(精)
图书信息
书名：表面分析技术(精)作者：约翰·C.维克曼,伊恩·S.吉尔摩,陈建,谢方艳,李展平,尹诗衡,龚力
包装：精装
开本：16
全文字数：732000
出版社：中山大学出版社
出版时间：2020-12-01
图书简介
本书详细介绍了表面分析主要技术和实例分析，包括俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、二次离子质谱、低能粒子散射、卢瑟福背散射技术、表面分子振动光谱技术、扩展X射线吸收精细结构和扫描隧道显微技术以及原子力显微技术等。每个技术均详细分析其基本原理和应用实例，同时提供分析练习题供读者检测掌握程度。本书不仅适合表面分析领域的专业人员学习，也适合科技爱好者和理工科学生查阅学习。
推荐理由
本书所介绍的表面分析技术是化学、物理等领域的重要工具，是现代表面科学领域的重要组成部分。本书对每种技术进行了详细的讲解，并提供了实例分析和练习题，对广大读者来说具有很大的参考价值。对于表面分析领域的专业人员，本书是一本难得的权威性教材，可以加深对表面分析技术的理解和掌握。对于科技爱好者和理工科学生，本书的内容形式简明易懂，可以作为学习和研究相关领域的参考书籍。