数字系统测试和可测试性设计 (美)赛纳拉伯丁 纳瓦比(Za[图书]|4719700
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图书信息
书名：数字系统测试和可测试性设计 (美)赛纳拉伯丁 纳瓦比(Za[图书]|4719700作者：美 赛纳拉伯丁 纳瓦比Zainalabe,贺海文 唐威昀
包装：平装
页数：368页
出版社：机械工业出版社
出版时间：2015
图书简介
这本书通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念，并讲解了数字电路测试的基础知识和HDL的作用。此外，本书广泛地使用Verilog和VerilogPLI编写测试应用，从而巩固学习者的理论知识及其在实际应用中的落地。作者详细讲解了故障仿真和测试生成算法，并提供了相关的Verilog模型和测试平台，为读者深入了解数字系统测试奠定了坚实的基础。对于数字系统测试和可测试性设计感兴趣的读者，这本书不容错过。
推荐理由
针对数字系统测试和可测试性设计这一领域，本书独具特色，采用Verilog模型和测试平台，以数字电路设计实例和方法阐明概念，形象生动地介绍了测试生成算法和故障仿真。本书涉及的内容广泛而深入，对于想深入了解该领域的读者，是一本不可多得的好书。