半导体材料与器件表征(第3版国外名校新教材精选)
图书信息
书名：半导体材料与器件表征(第3版国外名校新教材精选)作者：迪特尔·K·施罗德|译者：徐友龙\\任...
包装：平装
开本：16
页数：714页
全文字数：1114
出版社：西安交大
出版时间：2017-12-30
图书简介
《半导体材料与器件表征》第三版是享誉国际的半导体材料与器件测量表征技术专业教材。该教材涵盖了全方位的电气和光学表征方法，包括更专业化的化学和物理技术，是全面深入学习半导体材料与器件测量表征技术的很好选择。本书全面反映了该领域的新发展现状，并包括了新的教学手段，以帮助读者能更好地理解。教材不仅阐述了所有新的测量技术，而且检验了现有技术的新解释和新应用。本书的修订和更新版完全反映了新数据和信息的变化，260个新的参考文献增加了新的研究和讨论的专题。本书还增加了用来测试读者对内容理解的新习题和复习题。读者将在每章中找到完全更新和修订的节。此外，该教材还新增了两个新章节：基于电荷和探针的表征方法和新的软件和自动测试技术。
推荐理由
这本教材对于学习半导体材料与器件测量表征技术的学习者是一本不可多得的参考书。本教材详细全面地介绍了全方位的电气和光学表征方法，包括更专业化的化学和物理技术。本教材反映了该领域的最新发展并包含了新的教学手段，有助于学习者更好地理解。如果你正在学习半导体材料与器件测量表征技术，那么这本教材是你必须要拥有的教材之一。