集成电路芯片测试技术
图书信息
书名：集成电路芯片测试技术作者：居水荣
包装：平装
开本：16
出版社：西安电子科技大学出版社
出版时间：2021-04-01
图书简介
《集成电路芯片测试技术》是一本科技工程方面非常实用的指南，作者对各类集成电路芯片的测试原理、测试方法及测试程序编写等知识进行全面深入地讲解，内容详实，图文并茂。本书不仅适合微电子技术工程师、技能大赛备赛者阅读学习，更可作为高职院校微电子技术专业核心课程教材。本书主要包含以下内容：
1. 介绍了晶圆探针台和测试机的使用方法
2. 详细介绍了组合逻辑和时序逻辑电路测试方法
3. 讲解了ADC和DAC芯片测试原理及方法
4. 分析了存储器和微控制器的测试方法
5. 介绍了集成运放和电源管理芯片的测试方法
总之，本书内容详实且实用，读者能够全面了解各种集成电路芯片的测试方法和技巧，掌握相关的测试程序编写技术。因此，本书不仅是微电子工程师的实用参考书，更可以作为高职院校微电子技术专业学生的指南和技能大赛备赛参考教材。
推荐理由
本书内容详实且实用，是一本值得推荐的指南和实用参考书。
