高速数字接口原理与测试指南
图书信息
书名：高速数字接口原理与测试指南作者：李凯
包装：平装
开本：16
全文字数：691000
出版社：清华大学出版社
出版时间：2014-11-01
图书简介
本书深入浅出，阐述高速数字原理，追本溯源，探究测试方法精髓，图文并茂，剖析前沿测量方案，结合作者多年从事高速数字设计和测试的经验，对高速数字信号的基本概念、测试理念、测试方法及发展趋势进行更深入的解读和浅显易懂的阐释。本书的特点是深入浅出并结合实际应用。书中没有复杂的公式和数学推导，所有重要的概念都是结合实验和实测数据进行生动的讲解，即使只掌握基本数字电路基础知识的本科生读起来也不会觉得费劲。本书的内容大多是现代高速数字电路的关键的技术，了解了这些技术的来龙去脉后，再深入学习或阅读专业技术文章就会更加得心应手。由于作者多年的实际应用经验积累及悉心整理，书中还提供了大量精美图片，包括实际波形、测量数据、常用仪表、技术方案等，这些都和电子工程人员的日常实际工作息息相关，可以帮助读者直观了解到当今的技术发展水平及业界领先的测试方法。
推荐理由
本书将高速数字接口的基本概念、测试理念、测试方法及发展趋势进行深入浅出地解读，并结合大量实例和图片生动讲解，适合从事计算机、移动终端、有线通信、航空航天设备开发的工程人员学习，也可供高校工科电子类的师生做数字电路、信号完整性方面的教学参考。本书没有复杂的公式和数学推导，重点讲解现代高速数字电路的关键技术，对于想要了解这些技术的人士来说十分实用，同时又将高深的知识浅显易懂地讲解，非常适合初学者。
