数字电路老化预测与容忍
图书信息
书名：数字电路老化预测与容忍作者：徐辉
包装：平装
开本：16
全文字数：121000
出版社：中国科学技术大学出版社
出版时间：2018-02-01
图书简介
《数字电路老化预测与容忍》围绕负偏置温度不稳定性引起的集成电路老化的预测与动态电路老化防护来展开研究，主要针对集成电路老化的预测和集成电路老化的容忍进行分析；对于高性能集成电路中常用的多米诺电路，针对其老化研究容忍方法，并提出对多米诺电路低功耗与抗老化的联合优化方法。本书内容深入浅出，专业性强，不仅涉及到集成电路、电子工程等领域，同时也穿插了一些相关的数学、物理学知识。每一章都有明确的结构和重点，讲述了从理论到实际工程应用的知识，对读者提供了宝贵的参考价值。
推荐理由
《数字电路老化预测与容忍》是一本深入研究集成电路老化的专业著作，对于从事集成电路设计、制造和测试等工作者以及电子信息领域相关专业人士具有较高的参考价值。读者通过阅读本书，可以深入了解数字电路老化预测与容忍的相关知识和应用技术，提升自己的技术水平和工作能力。此外，本书还涵盖了多种多样的电路老化防护方法和技术，可为相关领域的技术研发、产品设计和教学提供较强的支撑作用。
