高速复杂互连的串扰故障测试技术
图书信息
书名：高速复杂互连的串扰故障测试技术作者：尚玉玲
包装：平装
开本：16
出版社：西安电子科技大学出版社
出版时间：2002-09-01
图书简介
本书详细解析了高速复杂互连的串扰故障测试技术，涵盖内容广泛，深入浅出，介绍了高速复杂互连线串扰测试、高速复杂互连结构串扰测试、高速互连通路串扰故障的ATPG技术。通过不同的算法和实验，系统地论述了复杂互连线串扰测试方法、复杂互连结构信号传输性能及等效电路、双路径复杂互连结构串扰及故障测试技术的实现与应用。本书既适合从事电路与系统、电子信息技术、测控技术与仪器方向学术研究的科技人员及企事业单位管理人员阅读参考，也可作为高等院校电路、计算机、机械制造、自动化等专业研究生和高年级本科生的教材。
推荐理由
该书介绍了高速复杂互连的串扰测试技术，对高速复杂互连线串扰测试、高速复杂互连结构串扰测试、高速互连通路串扰故障的ATPG技术进行了详细解析。本书全面、深入地介绍了该领域的基本理论、原理、技术和方法，内容涉及广泛，适合从事相关领域研究的人员阅读。此外，本书还可以作为相关领域高等院校的教材进行教学使用。