光电子器件微波封装和测试
图书信息
书名：光电子器件微波封装和测试作者：祝宁华
包装：平装
页数：292页
全文字数：368000
出版社：科学出版社
出版时间：2007-7
图书简介
《光电子器件微波封装和测试》总结了作者多年来的工作经验和近期研究成果，包括半导体激光器、光调制器和光探测器的微波封装设计，各种小信号频率响应特性测试方法及测试系统校准方法，大信号频率响应特性测试方法，光电子器件本征响应特性分析和应用，光谱与频谱分析技术的总结。该书不仅介绍了相关的理论知识，更注重结合实际工作，让读者具有实际操作的能力。作者多年的研究和实践经验在该书中得到了充分的展示。读者可以从中获取到相关领域的前沿技术和实战经验。
推荐理由
《光电子器件微波封装和测试》是一本系统、全面的介绍高速光电子器件测试和微波封装设计方面实用技术的科技图书。适合从事光电子器件教学与研究的科技工作者、工程技术人员、研究生和高年级本科生阅读和参考。作者多年的研究和实践经验在此书中表达的非常到位，读者可以从中获取到相关领域的前沿技术和实战经验。该书不仅涵盖了相关的理论知识，更注重结合实际工作，让读者具有实际操作的能力。对于光电子器件的研究和应用有一定基础的读者，可以把本书作为必备资料之一。
