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测试智能信息处理(清华大学测控技术与仪器系列教材) 王雪著 9787302165750

更新时间: 2024年10月10日 访问量: 945次
图书分类 : 基础与理论
测试智能信息处理(清华大学测控技术与仪器系列教材) 王雪著 9787302165750

图书信息

书名:测试智能信息处理(清华大学测控技术与仪器系列教材) 王雪著 9787302165750
作者:王雪
包装:平装
页数:545页
出版社:清华大学出版社
出版时间:2008-1

图书简介

本书着重介绍了测试智能计算的基础理论和方法,包括神经网络计算、模糊计算和进化计算等方面的内容。同时,本书还涉及测试技术、电子技术、计算机技术、控制技术等多个学科,具有广泛的应用前景。通过本书的学习,读者可以了解测试系统的组成和信息获取的过程,掌握智能计算的基础理论和方法,并且了解数据融合的基本原理。

推荐理由

本书是一本全面介绍测试智能信息处理的教材,适合测试技术、电子技术、计算机技术、控制技术等多个学科的专业人士和学生学习。本书涵盖了神经网络计算、模糊计算和进化计算等方面的内容,对于想要深入了解智能计算的同学,可以作为参考资料。本书拥有清华大学测控技术与仪器系列教材的优质品质保证,值得一读。