Lattice可编程器件测试技术
图书信息
书名：Lattice可编程器件测试技术作者：吴丹,石坚,周红
包装：平装
开本：16
全文字数：39000
出版社：西北工业大学出版社
出版时间：2015-01-01
图书简介
《Lattice可编程器件测试技术》以Lattice可编程器件为对象，从工程实际应用出发，深入研究了可编程器件的测试技术，并提出了相应的测试流程与工具。其中，编程资源测试技术通过对单元进行测试来检验单元操作的正确性。逻辑资源测试技术是基于可测性设计，通过在设计阶段引入合适的电路结构保证各个逻辑资源的可测试性，从而在布线之前实现错误检测。而为了生成最优的测试向量，本书也介绍了功能测试生成算法，包括模式压缩算法、基于模式匹配的测试向量生成算法等。对于测试向量和测试程序开发效率和质量的规范也在本书中被说明。此外，本书还包括对研究绪论及结果分析的探讨，为读者提供了深入了解可编程器件测试技术的全面参考。
推荐理由
《Lattice可编程器件测试技术》是一本非常实用的技术类书籍，详细介绍了Lattice可编程器件自动编程与测试的关键技术。对于相关工程技术人员、科研人员以及高等学校有关专业教材或教学参考书的需求人群都是一个不可或缺的选择。本书内容翔实、实用，作者系统性地介绍了可编程器件的测试技术及其实现过程，对于从事该领域研究或实践的读者都是一本难得的参考。同时，本书还提供了规范化的测试流程和工具，有助于读者将书中的技术应用到实际项目中。总之，如果您对可编程器件测试技术有兴趣或需要深入了解此类技术，那么本书绝对是值得一读的。
